GOEPEL electronic - Get the total Coverage! JTAG/Boundary Scan

CION Modules™

Durante o desenvolvimento da tecnologia CION™, a GOEPEL electronic reuniu os desejos dos clientes numa nova geração de módulos de pesquisa de limites/JTAG (Joint Test Action Group) económicos e flexíveis para instalar no adaptador de teste activo. Através da tecnologia única CION™, pode ser oferecida uma solução extremamente eficiente.

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O núcleo dos seguintes módulos CION™ é composto por alguns dos CION™ ASIC especiais e um complexo analógico extensivo.

Informe-se aqui mais detalhadamente acerca dos módulos (extracto da palete de produtos CION).

CION Module™/FXT192A

CION Module™/FXT192A
CION Module™/FXT192A

O módulo CION™/FXT192A foi especialmente concebido para integração em dispositivos de teste. O núcleo do módulo é composto por alguns dos CION™ ASIC especiais e um complexo analógico extensivo. O módulo possibilita uma cobertura de teste de pesquisa de limites/JTAG (Joint Test Action Group) para componentes de accionamento digitais sem capacidade de pesquisa e fichas de ligação, bem como uma grande variedade de testes analógicos e medições de tensão. Cada canal digital pode ser independentemente programado como entrada, saída, bidireccional ou três estados. Todos os canais de teste proporcionam uma corrente de comando maior e a chamada função de dispersão ("unstress"), para evitar danos na interface devido a correntes de falha demasiado elevadas. O complexo analógico é configurável com banda larga, de acordo com a tensão. Além disso, o módulo dispõe de recursos adicionais para comutação de voltagens e para o comando de actuadores/sensores externos, tais como interruptores, LED, relés, etc. O módulo CION™/FXT192A pode ser montado em cascata e sujeito a permuta em funcionamento.

CION Module™/FXT96

CION Module™/FXT96
CION Module™/FXT96

No caso do módulo CION™/FXT96 trata-se de uma placa de teste com 96 canais de teste bidireccionais, que se distinguem em três grupos de 32 canais cada, com voltagens de entrada/saída programáveis entre 1,8 V e 5 V. Este foi especialmente concebido para aplicações de voltagem mista, com sinais de terminal individual. Cada canal de teste pode ser ligado independentemente dos outros como canal de entrada, de saída, bidireccional, ou inactivo, e as saídas podem fornecer uma corrente até 24mA. Eles estão adicionalmente equipados com a função de dispersão ("unstress"), para evitar danos na interface devido a correntes elevadas. O módulo CION FXT/96 pode ser permutado durante o funcionamento ("hot-swap"). Uma das vantagens em relação a outras soluções reside no facto de a adaptação poder ser realizada tanto através de "wire wrap", como também com cabos IDC de 50 pinos. Os módulos foram desenhados de forma a poderem montar-se vários em cascata e se obter desta forma mais de 1000 canais de entrada/saída.

CION Module™/SO-DIMM204-3

CION Module™/SO-DIMM204-3
CION Module™/SO-DIMM204-3

O módulo CION™/SO-DIMM204-3 foi concebido especialmente para o teste de interfaces DDR3 SO-DIMM204, nos termos das normas JEDEC (JESD21-C e JESD 79-3C). O núcleo do módulo é um CION™ ASIC especial e um FPGA. O módulo permite uma cobertura de teste de pesquisa de limites/JTAG (Joint Test Action Group) avançada para todos os sinais de interface DDR3, incluindo a maioria dos pinos de energia e de ligação à terra. Cada pino de sinal SO-DIMM204 pode ser independentemente programado como entrada, saída, bidireccional ou três estados. Os canais de teste CION proporcionam uma corrente de comando maior e a chamada função de dispersão ("unstress"), para evitar danos na interface devido a correntes de falha demasiado elevadas. Além disso, o módulo CION™/SO-DIMM204-3 pode ser montado em cascata e ser sujeito a permuta em funcionamento.

CION Module™/PCIe-x4

CION Module™/PCIe-x4
CION Module™/PCIe-x4

O módulo CION™/PCIe-x4 possibilita o teste estrutural de ranhuras PCI Express x4, através de IEEE1149.1./6. Os elementos de núcleo do módulo consistem num CION™ ASIC emparelhado com canais de teste diferenciais. O módulo de baixo custo é inserido directamente na ranhura PCI Express e accionado por intermédio de uma porta de acesso de teste ("TAP - Test Access Port"). Através dos canais de teste IEEE1149.1 e IEEE1149.6 integrados, podem ser testados todos os pinos de alta velocidade, pinos de baixa velocidade e pinos de alimentação de energia de PCI Express 1.x e fichas de ligação compatíveis com 2.0.

CION Module™/PCI32-64

CION Module™/PCI32-64
CION Module™/PCI32-64

O módulo CION™/PCI 32-64 foi concebido como placa PCI configurável para o teste de pesquisa de limites/JTAG avançado de fichas PCI de 3.3V e 5V (por ex., em placas-mãe de computador) incluindo detecção automática de voltagem. Cada sinal PCI pode ser ligado independentemente como entrada, saída, bidireccional ou inactivo. Adicionalmente, também são cobertos sinais de energia e sinais de terra. Todos os canais de teste podem impulsionar correntes altas e possibilitam a função de dispersão ("unstress"), a fim de se evitarem danos na interface devido à elevada corrente. O módulo CION™/FXT96 pode ser permutado durante o funcionamento ("hot-swap"). O bus de teste é alimentado através dos sinais nativos IEEE1149.1 da ficha de ligação PCI ou, alternativamente, da ficha de ligação de 10 pinos disponível em separado. Podem ser montados vários módulos em cascata. Estão livremente disponíveis 12 canais de teste de pesquisa de limites/JTAG adicionais.